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  1. Implemetierung von Geradheitsmessungen am Nanometerkomparator der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt
  2. Gesputterte, elektrisch isolierende Schichten für Dünnschichtsensoren auf metallischen Grundkörpern
  3. CD-ROM: 3D Micro- and Nanometrology - Requirements and Current Developments
  4. Geometriebestimmung mit industrieller Computertomographie - Aktueller Stand und Entwicklungen
  5. Ein Beitrag zur Entwicklung eines laserinterferometrischen Trackingsystems für die Genauigkeitssteigerung in der Koordinatenmesstechnik
  6. CD-ROM: SEM Based Dimensional Metrology

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  7. Design and Analyses of Security Measures for Clock Synchronization Protocols
  8. Der Antastprozess von Mikrotastern bei dimensionellen Messungen
  9. Semiconductor-based single-photon sources for quantum radiometry and their metrolgical characterization

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