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  1. Gesputterte, elektrisch isolierende Schichten für Dünnschichtsensoren auf metallischen Grundkörpern
  2. CD-ROM: 3D Micro- and Nanometrology - Requirements and Current Developments
  3. Geometriebestimmung mit industrieller Computertomographie - Aktueller Stand und Entwicklungen
  4. Ein Beitrag zur Entwicklung eines laserinterferometrischen Trackingsystems für die Genauigkeitssteigerung in der Koordinatenmesstechnik
  5. CD-ROM: SEM Based Dimensional Metrology

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  6. Der Antastprozess von Mikrotastern bei dimensionellen Messungen

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