Artikel 1 bis 10 von 19 gesamt

pro Seite
Seite:
  1. 1
  2. 2

In absteigender Reihenfolge
  1. Der Antastprozess von Mikrotastern bei dimensionellen Messungen
  2. Design and Analyses of Security Measures for Clock Synchronization Protocols
  3. Semiconductor-based single-photon sources for quantum radiometry and their metrolgical characterization
  4. CD-ROM: SEM Based Dimensional Metrology

    CD-ROM: SEM Based Dimensional Metrology

    PTB F-52

    Mehr erfahren
    15,00 €
    Inkl. 19% MwSt., zzgl. Versandkosten bei Auslandsbestellungen

  5. Ein Beitrag zur Entwicklung eines laserinterferometrischen Trackingsystems für die Genauigkeitssteigerung in der Koordinatenmesstechnik
  6. Geometriebestimmung mit industrieller Computertomographie - Aktueller Stand und Entwicklungen
  7. CD-ROM: 3D Micro- and Nanometrology - Requirements and Current Developments
  8. Gesputterte, elektrisch isolierende Schichten für Dünnschichtsensoren auf metallischen Grundkörpern
  9. Implemetierung von Geradheitsmessungen am Nanometerkomparator der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt
  10. Ermittlung einer aufgabenspezifischen Messunsicherheit für Verzahnungsmessungen

Artikel 1 bis 10 von 19 gesamt

pro Seite
Seite:
  1. 1
  2. 2

In absteigender Reihenfolge