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  1. Ermittlung einer aufgabenspezifischen Messunsicherheit für Verzahnungsmessungen
  2. Implemetierung von Geradheitsmessungen am Nanometerkomparator der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt
  3. Gesputterte, elektrisch isolierende Schichten für Dünnschichtsensoren auf metallischen Grundkörpern
  4. CD-ROM: 3D Micro- and Nanometrology - Requirements and Current Developments
  5. Geometriebestimmung mit industrieller Computertomographie - Aktueller Stand und Entwicklungen
  6. Ein Beitrag zur Entwicklung eines laserinterferometrischen Trackingsystems für die Genauigkeitssteigerung in der Koordinatenmesstechnik
  7. CD-ROM: SEM Based Dimensional Metrology

    CD-ROM: SEM Based Dimensional Metrology

    PTB - F - 0052 Mehr erfahren
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  8. Der Antastprozess von Mikrotastern bei dimensionellen Messungen

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